Boundary-Scan

das Testverfahren für digitale Baugruppen.

• Sie haben hochpolige Bausteine z.B.:
  BGA, QFP, TQFP ohne Zugriffsmöglichkeiten auf die Netze?

• Sie wollen schnell und effizient Ihre Prototypen in Betrieb nehmen?

• Sie müssen in der Fertigung Verbindungen sicherstellen, sowie
  offene Lötstellen und Kurzschlüsse finden?

Die meisten digitalen Controller und Prozessoren haben heute eine JTAG-Schnittstelle. Diese ist weit mehr als nur ein Programmier-Port. Über die Boundary-Scan Schnittstelle können Sie gezielt auf jeden einzelnen Pin Ihres Bausteins zugreifen und diesen unabhängig von der Kernfunktion des Bausteins ansteuern. Über zusätzliche Befehle können Sie sogar den Kern für Tests nutzen. Haben Sie mehrere Bausteine zu einer Scan-Kette verbunden, können Sie umfangreiche Tests automatisiert erstellen lassen.

Nur ein Baustein JTAG-fähig?  Ganz einfach: Zusätzliche digitale Pins ermöglichen auch hier den Zugriff.

Wir sind Applikationspartner und Distributor für JTAG Technologies in Deutschland.
Gerne unterstützen wir Sie von der Konzeption bis zur Serienfertigung.